SiCナノ粒子を添加したMgB2超伝導線材のTEMによる微細構造解析
TEM analysis of microstructure in nano-SiC doped MgB2 tapes
吉留 健
，SOSIATI Harini，波多 聡，友清 芳二，桑野 範之（九大）；松本 明善，北口 仁，熊倉 浩明（NIMS）
yosidot5@asem.kyushu-u.ac.jp
Abstract: in situ PIT法を用いたMgB2線材の作製過程においてSiCナノ粒子を添加することで臨界電流密度Jcが向上することが知られているが、そのメカニズムは十分に解明されていない。本講演では、集束イオンビーム（FIB）法および透過電子顕微鏡（TEM）を用いた微細構造解析により得たSiCナノ粒子添加効果に関する新たな知見を報告する。