Nb
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Sn素線の曲げ歪印加時における超電導特性の数値解析・評価
Numerical Simulation of Critical Characteristics in Nb
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Sn strand Subjected to Bending Strain
村上 陽之
，植田 浩史，石山 敦士（早大）；小泉 徳潔，奥野 清（原子力機構）
murakami@fuji.waseda.jp
Abstract: ITER工学設計活動の一環として、Nb
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Snモデル・コイルの試験の結果、素線の臨界特性の劣化が確認された。その原因として、素線の局所曲げが考えられており、Nb
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Sn素線に周期的な連続曲げを印加した場合に、同様の劣化が生じることが実験的に確認されている。しかしながら、これらの試験は特定の磁場、温度、ひずみの下でしか実施されていないため、周期的な曲げひずみと臨界特性の劣化の定量的な関係が明確にされていない。そこで、Nb
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Sn素線の臨界電流値、n値の曲げ歪依存性を評価するため、分布定数回路を用いた数値解析コードを開発し、本コードを用いて曲げ歪とI-V特性の関係について評価したので報告する。