EBSPによるY系線材の配向組織観察
EBSP observation of textured structures in Y-based coated conductors
二見 俊介，
松本 要
（京大）；衣斐 顕，山田 穣，塩原 融（SRL）
kaname.matsumoto@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp
Abstract: EBSPは菊池パターンを用いて結晶粒の方位を決定できる手法である。今回はこの手法を用いて面内配向度の異なるIBAD基板上とRABiTS基板上に形成したYBCO薄膜の方位分布を測定した。結果によればIBAD上のYBCO粒はX線回折によって評価された面内配向度よりも良く，2-3度程度にまで配向の乱れが抑えられ，ほとんど単結晶的な分布を示した。一方，RABiTS上のYBCO粒はX線回折とよく似た面内配向度を示した。これらの違いが両者のJc特性に影響を与えていると考えられる。