X線小角散乱及び逆格子マッピングを用いたREBa2Cu3O7-x薄膜中の金ナノロッドの評価
The evaluation of the gold nanorods in REBa2Cu3O7-x thin films by using small angle X-ray scattering and reciprocal space mapping

堀出 朋哉 , 松本 要 （京大）；長村 光造 （応用科学研）；一瀬 中 （電中研）；向田 昌志 （九大）；吉田 隆 （名大）；堀井 滋 （東大）
tomoya.horide*t04.mbox.media.kyoto-u.ac.jp

Abstract: GdBa2Cu3O7-x薄膜中に作製した金ナノロッドをX線小角散乱及び逆格子マッピングを用いて評価した。小角散乱から形状、サイズ、界面の性質を逆格子マッピングからは格子定数及び金とGdBa2Cu3O7-xの方位関係を求めることができた。これらの結果をもとに、GdBa2Cu3O7-x薄膜中の金の構造について議論する。