YドープBi-2212単結晶の育成と固有ジョセフソン効果
Growth of Y-doped Bi-2212 crystal and intrinsic Josephson effect

岡田 崇志 , 浅田 大輔 , 中島 健介 (弘前大)
knaka*eit.hirosaki-u.ac.jp


Abstract: Bi2Sr2CaCuO8+y(Bi-2212)単結晶を利用した固有ジョセフソン接合は,高温超伝導体の大きなエネルギーギャップを利用した超高周波発振,検出デバイスへの応用が期待される。こういった分野への応用を考えた場合,接合臨界電流密度(Jc//c-axis)およびジョセフソンプラズマ周波数の制御が大きな課題である。本研究では,雰囲気アニールによる酸素ドープ,yの制御に代えて,より精密なJc制御が期待されるYドープに着目し,セルフフラックス法ならびにCapped-LPE法によってYドープBi-2212単結晶(薄膜)を育成すると共に固有ジョセフソン接合特性を作製してYドープによる接合特性の変化を評価した。