第三高調波電圧誘導法における磁束線可逆運動の膜厚依存性
Film thickness dependency of the reversible fluxoid motion in the third harmonic voltage method

吉田 貴昭 , 柴田 雅大 , 木内 勝 , 小田部 荘司 , 松下 照男 （九工大）
yoshida*aquarius10.cse.kyutech.ac.jp

Abstract: 超伝導薄膜の直上にコイルを置き、交流電流を通電してコイル両端に誘導される第三高調波電圧を測定するとき、コイルから発生している交流磁界が反対側に突き抜ける際に第三高調波電圧が急激に大きくなる。この時の交流電流の閾値Ithは膜厚dと臨界電流特性Jcに比例するので、Jcを測定することが出来る。しかし実際の応用に際しては、膜厚が縦方向弾性相関距離l44と同程度の時に磁束線の可逆運動が顕著となり、第三高調波電圧誘導法によるJcが過大評価される恐れがある。そこで、本研究では膜厚の異なるYBCO-coated線材に対して第三高調波電圧誘導法によりE-J特性を評価し、膜厚によりどの程度磁束の可逆運動の影響を受け、Jcが過大評価されてしまうのかを明らかにする。