磁気ナイフ法によるYBCO超伝導線材・薄膜の臨界電流密度分布測定の誤差低減
Reduction of error in Jc distribution of coated conductors measured by magnetic knife method
A横浜国大，Bフジクラ，CISTEC-SRL
Graduate School of Engineering， Yokohama National University
丸山 修A，宮下 宗丈A，雨宮 尚之A，斉藤 隆B，山田 穣C，塩原 融C
maruyama*rain.dnj.ynu.ac.jp
Abstract :
これまで磁気ナイフ法で求めたJc分布の確度に関して様々な検討を行ってきた。今回、サンプル支持プレートの冷却時の歪みを防止するためにそれを厚くし、このサンプル支持プレートを使って測定できるようにギャップ間隔を4 mmとし、ギャップ内での試料線材・薄膜の設置位置を変えて設置位置によってJc分布測定値がどの程度変わるかを調べた。その結果、試料線材・薄膜の設置位置がギャップ中央（y’ ＝ 0 mm）からずれるにしたがって超伝導体のJc測定値が低くなり、超伝導体がない部分に見かけ上Jcが現れ、その値が大きくなってしまうことがわかった。C型鉄心間のギャップ内の磁界成分を数値計算で求めた結果、ギャップ内の磁界のy’方向成分By’はほとんど変わらないが、磁界のx’方向成分Bx’がギャップ中央（y’ ＝ 0 mm）からずれるにしたがってヌルライン付近で大きくなることがわかった。試料線材・薄膜の設置位置がギャップ中央（y’ ＝ 0 mm）からずれるとJc分布が変わってしまうのはギャップ内の磁界のx’方向成分Bx’が影響しているためと考えられる。
Keyword(s) :
磁気ナイフ法,臨界電流密度分布,測定誤差,YBCO,,