In-situ法MgB2/Cu線材の組織と臨界電流密度
Microstructure and Critical Current Densities of In-situ MgB2/Cu wire
日大理工A，日大理工科目等履修生B
Grasuate School of Science and Technology，Nihon-University
谷口 優A，前田 穂B，川上 隆輝A，小林 久恭A，八十濱 和彦A，久保田 洋二A
suguru*t.email.ne.jp
Abstract :
CuシースMgB2単芯線材をIn-situ法で作製した。圧延過程の途中で熱処理を加えることで空孔や不純物の発生を抑える効果を狙った。線材断面のSEMやX線回折測定から試料内部の観察を行い、直流四端子法により臨界電流密度の温度・磁場依存性を調べた。13K-2Tの条件で、線材の臨界電流密度は5，000A/cm2を示した。
Keyword(s) :
MgB2,Cu,臨界電流密度,,,