５００ｍ超電導ケーブル長期試験後の残存Ｉｃ試験結果
The result of Ic after long-term 500m Superconducting cable test
A古河電気工業（株），BSuper-GM，CCRIEPI
The Furukawa electric co.，ltd
平野寛信A，八木正史A，向山晋一A，木村昭夫B，市川路晴C，鈴木 寛C
mr921361*mr.furukawa.co.jp
Abstract :
電力中央研究所横須賀運営センター殿にて、５００ｍ超電導ケーブルの長期試験が行われ、終了した。そこで、試験線路を解体するにあたり、試験ケーブルを切断サンプリングを行い、試験後の残存Ｉｃを測定する事とした。 その結果、導体層のIcは劣化していないが、シールド層のIcは部分的に１０％程度劣化している事を確認した。この理由は超電導ケーブルを冷却した際に生じる熱収縮によってケーブルコアが断熱管に押し付けられた事によると考えられる。
Keyword(s) :
臨界電流値,残存試験,シールド層,導体層,劣化,長期課通電試験