第３高調波誘導電圧を用いる超電導薄膜の Jc 測定の標準的な方法の提案
Proposal of a standard method to measure Jc of superconducting thin films using inductive third-harmonic voltages
産総研
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
山崎裕文， 馬渡康徳， 中川愛彦
h.yamasaki*aist.go.jp
Abstract :
大面積超電導膜における臨界電流密度 Jc を非破壊的に測定する方法として、第３高調波誘導電圧 V3 を用いる方法がある。この方法では、膜の直上に小コイルを置いて交流磁界を印加し、それによって誘導される電圧を計測して、第３高調波成分が生じ始める時のコイル交流電流の閾値 Ith から Jc を計算する。我々は、昨年春の学会で、この Ith 決定において通常用いられる定電圧基準による簡便法では系統的な誤差が生ずることを指摘し、その代替として、定抵抗基準による方法があることを報告した。今回、Jc 決定の電界基準まで含めて、標準的な測定方法の１例を提案する。
Keyword(s) :
誘導法,第３高調波誘導電圧,超電導薄膜,臨界電流密度,標準測定法,