黒化処理がLHD導体の安定性に及ぼす影響
Effect of surface oxidation on stability of LHD conductor
大屋正義
，白井康之，塩津正博（京大）；今川信作（NIFS）
ohya*pe.energy.kyoto-u.ac.jp
Abstract: 本研究ではこれまでに核融合科学研究所の大型ヘリカル装置のヘリカルコイルに用いられている超電導導体を用いたLHD導体試験コイルを製作し、He I冷却とHe II冷却を対比して安定性評価試験を行い、He II冷却の有効性を定量的に評価した。しかしながら、液温を下げるほど動的な片側伝播現象がクエンチ電流以下のより広い範囲で観測されることを明らかにしている。LHD導体の安定性にはアルミ安定化材中の電流拡散の遅れや導体中を循環するホール電流など複雑な要因が関わっていると考えられるが、導体表面に施された黒化処理の影響も大きいと考えられる。このため今回、導体表面の黒化処理を除去したLHD導体を用いて新しく試験コイルを製作し、安定性試験を行ったのでその結果について報告する。