柱状欠陥を導入したYBCO薄膜におけるピンニングパラメータの磁場角度依存性
Angular dependence of pinning parameters in YBCO thin films with columnar defects
末吉哲郎
，平湯直志，春田正和，藤吉孝則，宮原邦幸，池上知顯，蛯原健治（熊本大）；宮川隆二（熊本県工技センター）；知見康弘，石川法人（原子力機構）
tetsu*eecs.kumamoto-u.ac.jp
Abstract: YBCO薄膜のピンニングパラメータに対する1次元ピンの影響を明らかにするために，重イオンの照射量や照射角を変化させて柱状欠陥を導入し，臨界電流密度の磁場角度依存性を測定した．柱状欠陥と同方向における臨界電流密度の磁場依存性において，マッチング磁場の1/3-1/2あたりの磁場でピーク効果を確認した．