YBCO/IBAD線材の臨界電流制限機構の解明
Current limiting mechanism in YBCO coated IBAD conductors
木須 隆暢
，井上昌睦，庄山俊弘，三井大輔，藤原隆，ZULIS Zulkifli，今村和孝，竹尾正勝（九大）；衣斐顕，山田穣，塩原融（SRL）
kiss*sc.kyushu-u.ac.jp
Abstract: 筆者等は、YBCO線材の電流制限因子を解明することを目的に、局所的な損失発生、電流分布ならびに欠陥位置を可視化する観測手法をそれぞれ開発してきた。本発表では、これらの観測手法を複合的に用いることによって、YBCO/IBAD線材の電流制限機構に関して重要な知見が得られたことを示す。IBADプロセスの改善に伴い、YBCO層の面内配向生は飛躍的に向上し、もはやひとつひとつの結晶粒界による弱結合の影響はなく、数10ミクロンから数100ミクロンの間隔で所々に点在する欠陥に伴う損失発生が、臨界電流値の決定因子となっていることを明らかとした。可視化された欠陥位置と、磁界下における磁束フロー損失発生位置、電流分布とが相互に良い一致が見られることを示す。本成果は、YBCO/IBAD線材の更なる高Ic化のための指針を与えるものである。本研究は超電導応用基盤技術研究開発の一環として、（財）国際超電導産業技術研究センター（ISTEC）を通じて、新エネルギー・産業技術総合開発機構（NEDO）からの委託を受けると共に、日本学術振興会の科研費（15360151）の助成を得て実施したものである。