走査SQUID顕微鏡によるYBCO/IBAD線材内の通電電流の可視化

Visualizing current transport in YBCO coated IBAD conductors by use of scanning SQUID microscopy

井上 昌睦，小柳智史，中村知也，今村和孝，木須隆暢，竹尾正勝（九大）；衣斐顕，山田穣，塩原融（SRL）
inoue*ees.kyushu-u.ac.jp
Abstract:　 YBCO/IBAD線材内部を流れる電流を走査SQUID顕微鏡を用いて可視化した。電流の可視化は高精度且つ高空間分解能な自己磁界分布計測により実現している。本手法により、線材内部において電流が欠陥を迂回する様子や集中している状態の可視化に成功している。低温走査レーザ顕微鏡による電界損失の線材内分布の観察結果や光学顕微鏡写真との対応から、YBCO/IBAD線材においては局所欠陥近傍の電流の振る舞いが損失発生の要因のひとつであることが明らかとなった。謝辞：本研究の一部は、超電導応用基盤技術研究開発の一環として、ISTECを通じて、NEDOからの委託を受けて実施すると共に、文部科学省の科研費（17760255）の助成を得て行ったものである。