Y系薄膜限流素子のSN転移に関する数値解析

Numerical analysis of SN transition of fault current limiting element using YBCO thin film


一木 洋太,大崎博之(東大)
iyota*ohsaki.k.u-tokyo.ac.jp

Abstract:  電流ベクトルポテンシャル法に薄板近似を適用した二次元電磁界解析および三次元熱伝導解析を連成解析するツールを用いて、不均一性をもったY系薄膜限流素子のSN転移に関して数値解析を行ったので報告する。