PLD法で作製されたYBCO-coated線材における臨界電流密度の厚さ依存性
Thickness dependence of critical current density in PLD-processing YBCO coated conductor
木村 健吾
，木内勝，小田部荘司，松下照男（九工大）；宮田成紀，衣斐顕，室賀岳海，山田穣，塩原融（SRL）
kimura*aquarius10.cse.kyutech.ac.jp
Abstract: 最近、YBCO-coated線材の臨界電流特性に対する超電導層の厚さの影響が明らかにされてきている。PLD法で作製されたテープ線材において、低磁界での臨界電流密（J
c
）が膜厚とともに低くなるのは、厚膜での超電導層の組織の劣化によることが知られている。一方、高磁界では磁束クリープの影響のため薄い線材のJ
c
は急激に劣化し、厚い線材に比べて低くなる。したがって、目的に応じた適切な厚みを設計するために線材の臨界電流特性に対する厚みの影響を調べ、特性を決定する機構を明らかにする必要がある。本研究では、PLD法で作製された膜厚の異なる3つの線材で厚さ依存性を調べた。