中性子回折によるCuNb/Nb3Sn線材の残留歪及び構造の評価

Investigation of the residual strain and the crystal structure for the CuNb/Nb3Sn wires by a neutron diffraction

小黒 英俊，淡路智，西島元，BADICA Petre，渡辺和雄（東北大）；神山崇，HARJO Stefanus（KEK）；片桐一宗（岩手大）
h-oguro*imr.tohoku.ac.jp
Abstract:　 Nb3Sn線材は少量の歪によって，その超伝導特性が劣化してしまう事がよく知られている．このため，線材内部の歪状態を調べる事は，Nb3Sn線材の特性を考える上で重要である．そこで今回は，低温において，中性子回折によりCuNb補強Nb3Sn線材の内部の歪を測定したので，報告する．また，線材のNb3Snフィラメントのみ取り出し，X線回折によってその構造を調べた結果についても報告する．