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(Nd-Eu-Gd)Ba₂Cu₃O_yバルク超伝導体の通電法による臨界電流密度の測定 (II)
Transport measurement of critical current for (Nd-Eu-Gd)Ba₂Cu₃O_y bulk superconductors (II)

^A一関高専, ^BISTEC-SRI, ^Cいわて産業振興センター, ^D芝浦工大, ^E東北大金研
°佐々木　浩^A,菊地　北斗^A,工藤　剛志^A,今野　広大^A,多田　大樹^A,亀卦川-佐々木　尚子^A,Miryala Muralidhar^B,町　敬人^B,能登　宏七^C,村上　雅人^D,渡辺　和雄^E
E-mail : kikegawa*ichinoseki.ac.jp
Keyword(s) : バルク,通電法,臨界電流密度,,,

我々はこれまでバルク超伝導体の臨界電流密度J_cの通電法による測定法の開発を行なってきた。今回、幾つかの(Nd-Eu-Gd)Ba₂Cu₃O_yバルク試料について、50A電源を用いて14Tまでの磁場領域でJ_cの測定を行なった。本講演では、得られた測定結果を同一試料において磁化測定から見積もられた値と比較し、通電時のJ_cの磁場及び温度依存性を微視的、巨視的な歪との関係において考察する。