Ta強化型Nb3Sn線の横圧縮応力に対するIc劣化とその可逆性
Ta-reinforced Nb3Sn wires degradation and reversibility of critical current due to transversal compressive stress


A上智大,B産総研
°梅川 健治A,深澤 雄太A,岩村 力A,美野輪 成利A,高尾 智明A,田中 秀樹B,梅田 政一B
E-mail : uk_xyz*f7.dion.ne.jp
Keyword(s) : Nb3Sn線,Ta強化,横圧縮応力,Ic劣化,Icの可逆性,

我々は、機械的歪みに弱いとされるNb3Sn線材を線材内部から補強する事を狙ったTa強化型Nb3Sn線材を用い、線材長手方向に対して直角に圧縮応力を印加して、この圧縮応力とIc劣化との関係を研究してきた。今回は、Taを断面中央に配置したタイプ(Ta-C型)と断面に対し分散配置したタイプ(Ta-D型)を用意し、4K・14Tで測定した横圧縮応力によるIc劣化と、除荷後のIcの可逆性について報告する。