SQUIDによるNbTi薄膜の不可逆磁場の測定

Measurements of the Irreversibility Field of NbTi Thin Films Using a SQUID-Based Voltmeter System

@丸山　卓也,赤澤　輝彦,武田　実

神戸商船大学

　本研究室では以前より、主にNbTiを用いた薄膜の磁気シールドの研究が行われてきた。それらの研究の中で、単層膜や積層膜における、臨界温度や臨界電流密度の膜厚依存性および磁場方向依存性等が明らかにされた。 　今回の研究では、SQUIDを用いて不可逆磁場を詳しく測定した。この結果に考察を加え発表を行う予定である。