TFA-MOD法によりIBAD基板上に作製したYBCO膜の低温レーザ顕微鏡観察

Low temperature scanning laser microscopy of YBCO/IBAD tape made by TFA-MOD process

@安永稔,徳富英明,井上昌睦,木須隆暢,竹尾正勝

九大院・シス情

酸化物高温超伝導体は、結晶の不均一性や熱雑音の影響によりJcはかなり広い統計分布を有する。したがって高温超伝導体を実用レベルの開発に結びつけるためには、臨界電流密度の制限因子の評価が必要となる。前回、面内分布を測定する手段として、集光した変調レーザー光をスキャンしながら電圧応答を測定する手法：低温レーザ走査顕微鏡(LTSLM)について報告した。１）本研究では、このLTSLMを用いてTFA-MOD法によりIBAD基板上に作製したYBCO膜の電界分布の観察を行った。この線材は直流四端子法によるE-J特性評価により臨界電流密度が2MA/cm2程度ある事が分かっているが、LTSLMによって局所的な低Jc領域によってJcが制限されている事が観察できた。測定等の詳細については後日報告する。 １）２００２年度秋季低温工学・超伝導学会　江頭他. 2A-a10 本研究は文部科学省の科研費（15360151）の助成を得ると共に、超電導応用基盤技術研究開発の一環として、（財）国際超電導産業技術研究センター(ISTEC)を通じて、新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)からの委託を受けて実施したものである。