高温超伝導体の電流−電圧特性に与える中性子照射損傷の影響

The effect of neutron damage of the E-J characteristic in high T_c superconductors

熊本大学工学部
石橋 康弘, @末吉 哲郎, 原口 誠, 国廣 吉永, 宮原 邦幸, 藤吉 孝則

　 高温超伝導体における電流−電圧特性は、最も基本的な特性でありながら、磁束線の振舞いの解釈の違いから、未解決の状態にある。そこで、高温超伝導体に中性子照射を施し、人工的にピンニングセンターを導入することで、ピン力の変化における電流−電圧特性をスケーリング解析により評価を行った。そこから得られる転移温度および臨界指数は電流−電圧特性を示す重要なパラメータである。その結果、ピン力の変化による臨界指数の変化を観測し、現在提唱されている高温超伝導体の電流−電圧特性におけるモデルの1つであるパーコレーション遷移モデルにより説明が可能であることが分かる。つまり、電流−電圧特性を制御する上でピン力の存在を考慮することが実用上重要であることが伺える。