surface resistance measurements of YBCO HTS films by sapphire dielectric resonator method using the radiation shield.
物質・材料研究機構
＠小森和範、川岸京子、福富勝夫、戸叶一正
高温超電導体（HTS）のマイクロ波特性を評価するために、サファイアロッドとHTS薄膜を用いたマイクロ波共振器を作成し、HTS薄膜のマイクロ波表面抵抗の測定を行った。マイクロ波表面抵抗値は共振ピークの無負荷Q値より算出されるが、共振器周囲に放射シールドを設けた構造の採用、温度分布や共振器ロッド材質などを検討した結果、MgO単結晶上YBCO薄膜を用いて共振器の無負荷Q値は1.2x10７（17.3K,12GHz）に達した。このRsを測定したところ、Rsは0.064mohm（20.2K,12GHz）という値となり、これはロッドの誘電体損失などの影響が非常に小さい状態で測定できていたことがわかった。