The correlation of the critical current density and surface resistance of YBCO thin films
山形大工,産総研A
@大嶋 重利, 稲童丸 桃子, 楠 正暢, 向田 昌志, 山崎 博文A
高温超伝導薄膜の表面抵抗は2流体モデルによると、磁場侵入長の3乗に比例する。一方、超伝導体のディペアリング電流密度は磁場侵入長の3乗に逆比例することが知られている。この関係より、表面抵抗はディペアリング電流密度の逆数に比例することが分かる。この関係は、表面抵抗が臨界電流密度に逆比例することを示唆している。我々は、同じYBCO薄膜のＪｃとＲｓを測定し、両者の相関を求めた。その結果、表面抵抗は臨界電流値に逆比例することが分かった。この関係が、いろいろな超伝導材料、あるいは磁場中でも成り立つとすれば、Ｊｃを測定するだけでＲｓを評価できることになる。