誘電体共振器法による高温超伝導薄膜の表面抵抗のマイクロ波パワー依存性測定

Measurement of the Microwave Power Dependence of Surface Resistance for High-Tc Superconductor Films by the Dielectric Resonator Method

産総研
@小原 春彦, 幸坂 紳, 馬渡 康徳, カテリン・デベロス, 山崎 裕文

　 誘電体共振器法は、非破壊で薄膜の表面抵抗を精密に測定できる点で優れている。そこで、我々は誘電体共振器法と進行波増幅管（TWT）アンプを組み合わせた測定系を構築し、超伝導薄膜の表面抵抗のマイクロ波パワー依存性を測定したので報告する。