Measurement of contact resistance between strands in CICC with Ni surface
北海道大学,日本原子力研究所A
@佐々木 憲一, 大西 利只, 小泉 徳潔A, 奥野 清A
パルス運転される大型の超伝導コイルにおいては、ＣＩＣ導体素線の撚り乱れなどによって生じる循環電流により偏流現象が起こり、クエンチ電流の低下を引き起こす。循環電流による偏流現象は素線間の接触コンダクタンスと密接な関係がある。そこで今回は、ニッケルメッキされたＣＩＣ導体（３×３×３×４×４）の素線間接触コンダクタンス分布を測定した。