YBCO薄膜における臨界電流密度の厚さ依存性

Thickness dependence of critical current density in YBCO thin film

Birmingham Universtiy
@河野 健二, Radoslav Chakalov, Pavel Mikheenko, Stuart Abell

　 厚みが異なる高温超伝導体YBCO薄膜をPLD法を用いて作成した。それぞの薄膜の磁化をVSMを用いて測定した。また試料表面の磁場分布を磁気光学法を用いて測定した。得られた実験結果を、垂直磁場中の臨界状態モデルを用いて解析し、膜の厚みが臨界電流密度Jcにどのように影響するかを議論する。