誘導法による超電導薄膜の臨界電流密度の測定の温度・磁界依存性

Inductive measurement of critical current densities of superconducting films: temperature and magnetic field dependence


産総研

@山崎 裕文, 馬渡 康徳, 中川 愛彦


  大面積超電導膜における臨界電流密度 Jc を非破壊的に測定する方法とし て、膜の直上に小コイルを置いて交流磁界を印加し、それによって誘導される電圧の 第3高調波成分を測定する方法が用いられている。我々は、この誘導法による第3高 調波成分の発生機構を理論的に解明し、第3高調波誘導電圧のコイル電流依存性の理 論曲線は、測定結果をうまく再現することができた。さらに我々は、誘導法による YBCO 薄膜の Jc 測定の温度・磁界依存性を調べ、同一試料について磁化法で測定し た Jc と比較した。温度 66-77.4 K、磁界 0-5 T において、両者はおおむねよい一 致を示したが、高温・高磁界においては乖離が見られた。測定の周波数依存性につい ても報告する。