高温超伝導体の電流-電圧特性に対する柱状欠陥密度の影響

Influence of columnar defect density to electrical transport properties in high-T_c superconductors

熊本大学工学部^A,熊本県工業技術センター^B,日本原子力研究所^C

米村 洋幸^A, 木崎原 智仁^A, @末吉 哲郎^A, 藤吉 孝則^A, 宮原 邦幸^A, 三野 辰彦^A, 池上 知顯 ^A, 蛯原 健治^A, 宮川 隆二^B, 石川 法人^C

　 重イオン照射によって高温超伝導薄膜の柱状欠陥密度を人工的に制御し，欠陥密度の異なる電流-電圧特性のスケーリングパラメータを調べた．その結果，動的臨界指数が柱状欠陥の導入，また欠陥密度の上昇によって増加した．この動的臨界指数の変化は，ピン力の分布を考慮したパーコレーション遷移モデルで説明することができる．