YBCO薄膜の臨界電流密度と表面抵抗の相関 (II)

Relationship between a critical current density and a surface resistance of YBCO films

山大・工,産総研^A
@大嶋重利,白川政信,楠正暢,向田昌志,山崎裕文^A

　 YBCO薄膜の表面抵抗と臨界電流密度の相関を実験的に検討し、表面抵抗は臨界電流密度に逆比例することを明らかにし、前回報告した。その相関は、表面抵抗とディペアリング電流密度との相関により説明できることも示した痰uるＶｈれら、この結果は、２２GHｚにおける表面抵抗の測定結果において見出されたものである。測定周波数が変われば、表面抵抗と臨界電流密度の相関も変化することが予想される。今回は、３８GHｚでの表面抵抗測定システムの立ち上げ、３８GHｚにおけるYBCO薄膜の表面抵抗の温度変化、及び３８GHｚでの表面抵抗と臨界電流密度の相関を報告する。