第３高調波電圧を用いる誘導法による超電導薄膜の電流電圧特性の測定

Inductive measurement of current-voltage characteristics of superconducting films using third harmonic voltages

産業技術総合研究所

@山崎裕文, 馬渡康徳, 中川愛彦

　 大面積超電導膜における臨界電流密度 Jc を非破壊的に測定する方法とし て、膜の直上に小コイルを置いて交流磁界を印加し、それによって誘導される電圧の 第３高調波成分を測定する方法が用いられている。我々は、この誘導法による第３高 調波成分の発生機構を理論的に解明し、第３高調波誘導電圧のコイル電流依存性の曲 線を理論的に導くとともに、YBCO 薄膜を用いた実験で理論を裏付けるスケール則を 観測した（前回の低温工学・超電導学会で報告）。今回、交流磁界によって誘起され る電界は周波数に比例することから、誘導法で測定された Jc の周波数依存性を調べ ることによって電流電圧特性を測定することができることを見いだしたので報告す る。