(Sm,Gd)-Ba-Cu-Oバルク超電導体の引張試験および破面観察

Tensile tests and fractographic observations of (Sm,Gd)-Ba-Cu-O bulk superconductors

岩手大院,岩手大工^A,超電導工研^B

村上明,片桐一宗^A,佐藤正^A,笠場孝一^A,正路良孝^A,坂井直道^B,Muralidhar Miryala^B,村上雅人^B

　 OCMG法によりc軸方向に配向した(Sm,Gd)-Ba-Cu-Oバルク超電導体から切り出した試料とそれを低酸素分圧中でアニールした試料の引張試験を室温で行った。引張強さの最大値はアニールを施していない試料よりも施した試料の方が高く，40MPaに達しY系やSm系のものと比較して高い。破断面の観察を行った結果，アニールを施していない試料では，気孔等の欠陥からき裂の伝播を示す流れ状の模様が広がっていく様子が確認できたが，アニールを施した試料では困難であった