高温超伝導体の電流-電圧特性に及ぼす柱状欠陥の影響

Influences of columnar defects on electrical transport properties in high-Tc superconductors


熊本大学工学部A, 熊本県工業技術センターB, 日本原子力研究所C

@米村洋幸A, 今泉豊晶A, 末吉哲郎A, 藤吉孝則A, 宮原邦幸A, 三野辰彦A, 山形幸彦A, 池上知顕A, 蛯原健治A, 宮川隆二B, 石川法人C


  YBa2Cu3O7-δ薄膜に重イオン照射により柱状欠陥を形成し,照射前後における電流-電圧特性のスケーリングパラメータを調べた.その結果,柱状欠陥の導入によって動的臨界指数は増加し,静的臨界指数は減少した.この臨界指数の変化から,柱状欠陥を導入したことで磁束ピンニング力が増大し,量子化磁束間の相関が弱められたと考えられる.