The correlation of critical current density and surface resistance of YBCO thin films
山形大工、産総研A
@大嶋重利、及川進一郎、野口恭史、楠正暢、向田昌志、山崎裕文A、中川愛彦A
MgO,MgO/BSO基板上にYBCO薄膜をスパッタリング法で形成し、その膜の臨界電流密度Jcと表面抵抗Rsを測定し、その相関を検討した。Jcは磁化測定法により、Rsはサファイアロッドを用いた共振器法により測定した。Ｒｓ，Ｊｃの測定は同じ試料を用いて行なった。ゼロ磁場下でのＪｃの値とその温度でのＲｓとの相関を検討した結果、強い相関があることが判明した。またその関係は、異なる温度でも成り立つことが判明した。この結果より、試料のＪｃが判るとＲｓが推定できることを見出した。