Surface Resistance Measurement of Bi-Sr-Ca-Cu-O Whisker ｂy Probe-Coupling Type Microstrip Resonator Method
姫路工業大学工学部A,山形大学工学部B,鳥取大学工学部C,物質・材料研究機構D
@岡井大祐A,大嶋重利B,岸田悟C,羽田野毅D
近年，高品質なBi2Sr2CaCu2Ox（BSCCO）ウィスカが作製さている。BSCCOウィスカはab面に成長することが知られている。このためウィスカは固有ジョセフソン効果を利用した単結晶ジョセフソン接合デバイスや磁束量子デバイスの材料として期待されている。一方，マイクロ波応用では，材料の表面抵抗が小さいことが重要である。ウィスカの結晶性からウィスカの表面抵抗は小さいことが期待される。しかしながら，ウィスカの表面抵抗は未だ報告されいない。その理由として，ウィスカの表面抵抗測定に適した測定方法が検討されていなかったことが挙げられる。以前，我々はプローブ結合型マイクロストリップ共振器法を用いてBSCCOウィスカのＱ値測定を行い，ウィスカのＱ値を報告した1）。今回，プローブ結合法を用いて測定したBSCCOウィスカの表面抵抗を報告する。 1）岡井ら，2000 年度春季低温工学・超伝導学会，C2−4，講演 概要集 ，pp. 143.