YBCO薄膜のIcばらつきと限流素子直列化

Effects of Ic dispersion on connected fault current limiters in series

（株）東芝研究開発センター^A,Super-GM^B

@久保田宏,工藤由紀,芳野久士^A,和智良裕^B

　 YBCO薄膜限流素子を直列化して印加電圧の向上を目指した場合、複数のYBCO薄膜限流素子間でのIcばらつきが大きいと素子破壊の危険性が高まる。今回の解析は限流素子の直列化により6.6kV級限流素子の実現を目指した場合に許容されるIcばらつきについて検討したものである。本研究は経済産業省産業技術環境局のプロジェクト「交流超電導電力機器基盤技術研究開発」の一環として、新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)からの受託により実施したものである。