Bi-2212薄膜における不可逆磁界の厚み依存性

Thickness Dependence of Irreversiblity Field in Bi-2212 Thin Film

九工大・情報工^A,東工大・理^B,通総研^C

和田浩志^A,小田部荘司^A,@松下照男^A,内山哲治^B,井口家成^B,王鎮^C

　 Bi-2212超電導体の薄膜および単結晶の不可逆磁界を測定し、不可逆磁界が試料の厚みに依存していることを磁束クリープ理論を用いて説明する。