有限要素法を用いた超伝導体薄膜ヒステリシス特性の角度依存性解析

Angler dependence of superconductor film hysteresis by FEM

九州大学大学院システム情報科学府電気電子システム工学専攻

@三宅徹.木須隆暢.宇都宮大介.大矢健太郎

　 酸化物高温超伝導体のヒステリシス損失は、応用機器を設計する上での安定性を左右する大きな要因の一つである。しかしながら膜や線材に印加される磁場の角度により複雑に変化し、その損失の予測は困難である。一方、我々は高温超伝導体の直流通電特性を、幅広い温度、磁場、角度範囲で測定結果を定量的に記述することが出来る理論式を提出されている。本研究では、その通電特性を物性方程式とした電磁場解析を二次元有限要素法で解くことにより、超伝導体薄膜におけるヒステリシス損失の角度依存性について求めた。