ヘリウム置換ガスを用いた誘電体共振器法による高温超伝導薄膜のマイクロ波表面抵抗の測定

電総研
@小原春彦,澤彰仁,山崎裕文,幸坂紳

　 超伝導体を用いた高周波デバイスの性能を決める最も基本的な物性値は表面抵抗である。今回、誘電体共振器を均一に冷やすことができる、ヘリウムガス置換型クライオスタットがTc近傍までの精密な表面抵抗測定に有効であることが明らかになったので発表する。