SRPM法によるBi系超伝導体の電磁特性の周波数依存性

工学院大学,豊島製作所^A
@市川孝道,中根央,山崎貞朗,田口晃,長谷山秀悦

　 SRPM法は、ソレノイドコイル中に円柱棒状試料を挿入したときと引き抜いたときのインピーダンスを測定し、その差分ΔZの実数部ΔRと虚数部ΔXから試料の抵抗率ρ及び磁場侵入長λを同時に求める測定法である。これまで、コイルインピーダンス差ΔZは超伝導体の電磁特性に起因していることを確認し、ΔRは角周波数 ωⁿのnが2(正常表皮効果)から5/3(異常表皮効果)に比例することを明らかにした。ΔRの周波数特性から電子の伝導状態が正常または異常表皮効果領域であるかを判別できることを示した。今回は、測定試料にBi系超伝導体を用いて、液体窒素温度でのΔRの周波数特性について解析し、正常表皮効果でρ及びλを求め、異常表皮効果領域で電子の平均自由行程lの導出を行った結果について報告する。