九州大学大学院システム情報科学研究科,昭和電線A,電中研B
@福田祐三,松村謙太郎,柁川一弘,岩熊成卓,船木和夫,長谷川隆代A,笠原泰文B,秋田調B
今回、Bi-2212ラザフォード型圧縮成型導体とこれを構成する素線の外部横磁界印加時の交流損失をピックアップコイル法により測定を行い、両者の比較によりより線導体の交流損失特性について検討を行った。両者の周波数依存性を比較することにより,より線導体内での素線間結合損失が主要な損失成分の一つになりうることが分かった。今回の素線のBi-2212多芯線はツイストが施されておらず、素線内の交流損失は大きいものであった。将来的にツイストが施された素線によるより線導体では,素線間の結合損失が相対的にさらに大きくなるのでその低減策が重要となる。