stress/strain state in Ag/Bi(2212) tapes estimated by using X-ray diffraction
金材研 @黒田恒生,和田仁,戸叶一正
銀シースBi(2212)テープ材の室温における応力/ひずみ状態をX線回折法を利用して調べた。その結果室温ではBi(2212)酸化物芯には残留応力がほとんど生じていないことがわかった