Bi-2212薄膜における不可逆磁界の厚み依存性

Dependence of Irreversibility Field on the Thickness of Bi-2212 Thin Film

九工大・情報工^A,九大院シス情^B,東工大・工 ^C
@山浦俊介^A,小田部荘司^A,松下照男^A,B, 内山哲治^C

　 SQUID磁力計を用いて厚さの異なるBi-2212薄膜の不可逆磁界を測定し、厚さ 依存性を調べる。また、測定した結果は磁束クリープ-フローモデルを用いた理論結 果と比較検討する。