第二種超伝導体の磁場分布を観察することは、この材料の特性を知る上で重要な評価法の一つである。　特に試料内部の不均一性を問題とするときに、材料を損傷させることなく組織の様子を探ることが可能である　という点で非常に有益である。そこで本研究では、微小なホールセンサーを試料表面で走査させることにより　磁場分布像が得られる走査ホールプローブを用いて、Ag/Bi2223超伝導テープ材に輸送電流を流し、その自　　　　　　　　　　　　　　　己磁場分布の観察をした。測定した磁場分布をフーリエ変換して電流密度分布を計算し、また逆に、任意のモ　　　デルを用いた仮想電流密度分布から変換した磁場分布を測定磁場分布と比較することにより、実際の電流密度　分布を検討するという2通りの解析法を用いて電流密度分布の定量性について検討した。