近年，全超伝導発電機や超伝導トランスなどの交流機器の実用化に向けて，交流用超伝導導体の開発が精力的に行われている。この導体の実用化の為には，まず素線やサブケーブル，さらには最終導体の安定性や損失特性を十分把握することが必要である。損失特性に関しては，外部横磁界下における交流損失を精度良く測定する技術は，導体の低損失設計の上で最も重要な項目の一つとなっている。しかしながら，1T程度の交流大振幅磁界中で微小交流磁化測定を行うことは，一般に非常に困難であり，実用レベルの導体の損失を評価する為には，現状の磁化法での測定感度を１桁以上向上させる必要がある。本研究では，商用周波交流用超伝導導体の交流磁化測定において，試料導体のない状態で発生する見かけの損失を小さくする為の新たな手法を提案し，磁化曲線測定の高感度化を試みたので，これについて報告する。